萬睿視VAREX平板探測器是一種精密和貴重的設(shè)備，對成像質(zhì)量起著決定性的作用，熟悉探測器的性能指標有助于提高成像質(zhì)量和減少X線輻射劑量。

 

　　萬睿視VAREX平板探測器的校準方法：

　　萬睿視VAREX平板探測器為例，探討平板探測器的校準，平板探測器校準由關(guān)鍵操作員執(zhí)行，關(guān)鍵操作員一般是指醫(yī)學(xué)工程部門的工程師或受到相關(guān)培訓(xùn)的設(shè)備操作員，在執(zhí)行平板探測器校準之前，要求DR設(shè)備連續(xù)開機（平板探測器工作）4H以上，平板探測器校準包括偏置刷新、暗度校準和X線校準。

　　方法一：偏置刷新：

　　偏置刷新校準每天進行1次，大約需要5min，偏置刷新校準用一系列Offset image，來清除由于環(huán)境變化或高劑量曝光后圖像殘留造成的偽影。偏置刷新校準也更新壞點圖。

 

　　方法二：暗度校準：

　　暗度校準每月進行1次，大約需要25min，在這個過程中沒有X線產(chǎn)生，暗度校準是通過校準獲取一系列Offset image，把這些圖像平均后計算得到一個參考圖像。暗度校準主要作用是執(zhí)行平板探測器本底校準，保證了探測器的均一性，如果平均探測器第1次被安裝并且沒有被校準，一定要在X線校準之間進行暗度校準。

 

　　方法三：X線校準：

　　X線校準每月進行1次，大約需要30min，在這個過程中要進行15次X 線曝光，X線校準包括增益校準、壞點圖更新。增益校準是在特定劑量下交替獲得偏置和X線圖像，在這個過程中實現(xiàn)對探測器非晶電路增益校準。壞點圖就是在維修模式下，探測器板空曝圖像，這種圖要比正常的DICOM圖要豐富，包括一些肉眼看不到的壞點。壞點圖更新是一個獲取偏置和X線圖像計算壞點圖過程。

 

　　萬睿視VAREX平板探測器校準中的注意事項：

　　有時因為室內(nèi)溫度波動超過5℃，設(shè)備會要求立即執(zhí)行平板探測器校準，所以保證盡量室內(nèi)溫度的恒定，在X線核準過程中，要保證在準 直器和探測器宰沒有遮擋的物體，同時保證準直器視野已經(jīng)開到大（1075px*1075px），如果沒有達到上述要求將會導(dǎo)致校準失敗，這時有劑量太低的提示信息，需按要求重新進行X線核準。